低對比度分辨力檢測模體拍攝范圍的選取應該注意哪些？
點擊次數：1600 更新時間：2022-11-24
低對比度分辨力檢測模體也叫分辨率測試卡，用于測量X射線系統的分辨率，以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。是由黑色和白色的線組成，頻率不一，分布在不同的水平和垂直方向。
低對比度分辨力檢測模體的使用方法：
1、首先就需要確定好標版的材料、尺寸、倍數。
2、安裝測試卡。一般講測試卡安裝在平滑墻面上，固定好測試卡即可使用。
3、然后根據測試卡的尺寸來確定拍攝距離。原則上應該選擇能讓有效高度正好充滿畫面的測試卡。
拍攝范圍的選取應該注意：
a.測試卡有效高度充滿畫面時，測試卡的4:3區域也應該正好充滿畫面。在取景偏大或偏小的情況下，應盡量使4:3區域中的J1、K1、J2、K2、JD、KD處于畫面中心。
b.測試四角分辨率時，要分別將四角上的十字型測試單元置于畫面角落。實際操作可以將其16:9端線貼在畫面外框，測量這一端上下兩個角的分辨率，再測另一側兩個角的分辨率。
4、鏡頭設置
鏡頭設置包括曝光時間、白平衡、亮度、色彩、Gamma校正、拍攝模式攝像鏡頭在進行測試時，需要選擇預設定的模式，采用默認的設置拍攝即可。若果在特殊效果下拍攝測試，就需要給出說明。
低對比度分辨力檢測模體使用時，將模體置于X射線機與探測器之間，X射線束垂直入射，曝光后觀察影像，調節觀察條件以獲得Z佳測試結果。
